红外发射率测量系统

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红外发射率测量系统

红外发射率测量系统

系统简介:

高精度红外发射率测系统是根据热辐射系数的原始定义进行测量,由温度控制装置、位置切换装置、数据采集和分析系统部分组成,在实验室条件下可以快速准确的测量不透明样品的红外发射率,便于下一步开展材料红外辐射特性的应用研究。测试系统的工作原理是用光谱辐射计接待测样品和标准腔黑体的辐射能量,然后做比值得到待测材料的光谱发射率(光谱辐射系数)。

系统特点:

1. 扫描速度快

2. 多角度测量

3. 波段范围宽

4. 测温范围广

5. 测量精度高

6. 数据实时分析显示

7. 多功能,利用率高

系统技术指标:

光谱范围:214μm

光谱扫描速度:0.01510/

光谱分辨率:优于中心波长的5%

测量重复性:0.5%

测量温度范围:50600

测量方向范围:-60°+60°.

应用领域:

红外发射率测量系统在材料学院、实验室检测设备、航空领域均有广泛的应用。


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